Prof. Luiz Vicente Gomes Tarelho (InMetro)

A Física surgiu da descrição de fenômenos provenientes da observação da Natureza e evoluiu para uma estrutura de teorias científicas comprovadas experimentalmente que permitem descrever a realidade física a partir da expansão da capacidade de observação dos sentidos humanos. Essa expansão se deu através da construção de instrumentos e dispositivos que permitiram realizar medições e prover descrições mais exatas, verdadeiras e precisas das grandezas e unidades envolvidas nessas medições. Nesse contexto, surge a metrologia como uma ciência que se ocupa com as melhores técnicas, procedimentos e métodos para realização de medições, construindo uma estrutura de conhecimento que permite o estabelecimento de uma estrutura internacional de padronização para as medições. Essa infraestrutura metrológica dá suporte para atividades de comércio internacional garantindo robustez, segurança e confiança na qualidade de produtos para as trocas comerciais internacionais. Adicionalmente, a metrologia auxilia a construir uma infraestrutura da qualidade que reconhece a certificação de bens produzidos numa cadeia produtiva inserida nessa infraestrutura metrológica. Além desse papel da metrologia, a padronização metrológica com uso das realizações práticas das unidades do Sistema Internacional de Unidades permite descrever uma metrologia física quanto-relativística a partir de 20 de maio de 2019, com a redefinição de algumas das unidades do SI. A metrologia física permite construir uma visão de futuro para a sociedade tecnológica que vivenciamos e com as perspectivas de redefinição da unidade de tempo, o segundo, em 2030-2034 e perspectivas de desenvolvimento da Indústria 4.0 com maior automação e virtualização do processo produtivo integrando-o à metrologia. Dessa maneira, a padronização metrológica descentralizada traz um futuro promissor para técnicas de metrologia quântica e para o desenvolvimento econômico e social do País. No seminário serão apresentados os conceitos metrológicos do Vocabulário Internacional de Metrologia, as definições e realizações práticas das unidades do Sistema Internacional de Unidades e trabalhos desenvolvidos e em desenvolvimento por alguns dos docentes e alunos de pós-graduação do Inmetro, nesse contexto metrológico. 

Referências:
1) Vocabulário Internacional de Metrologia: Conceitos fundamentais e gerais e termos associados (VIM 2012). Duque de Caxias, RJ: INMETRO, 2012.
2) Sistema Internacional de Unidades (SI) / Tradução do Grupo de Trabalho luso-brasileiro do Inmetro e IPQ. — Brasília, DF: Inmetro, 2021.
3) Cadernos de Metrologia / Diretoria de Metrologia Científica e Tecnologia do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia. Vol. 1, n. 1 (2019) Abr/Jun. – Duque de Caxias, RJ: Inmetro, 2019.

Disponíveis em
https://www.gov.br/inmetro/pt-br/centrais-de-conteudo/publicacoes/documentos-tecnicos-em-metrologia

4) Fritz Riehle et al, The CIPM list of recommended frequency, standard values: guidelines and procedures, Metrologia 55 188, 2018. Disponível em
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1681-7575/aaa302

TITULAÇÃO E FILIAÇÃO INSTITUCIONAL:

• Doutorado em Tecnologia Nuclear (USP, Brasil);
• Pesquisador do IPEN-CNEN (1998-2008);
• Pesquisador do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (2008- )

AVISO: Palestrantes convidados têm total independência em seus comentários. Suas opiniões não refletem, necessariamente, a posição ou visão do Programa de Pós-graduação Multidisciplinar em Física Aplicada ou do Instituto de Física da UFRJ.