Primeiro plano: Câmara esférica que receberá as amostras para análise; segundo plano: espectrômetro SIMS.

Inaugura hoje o mais novo equipamento associado ao acelerador Pelletron do LaCAM – um espectrômetro de massa de íons secundários (Secondary Mass Ion Spectometer – SIMS).

Fabricado pela empresa britânica Hiden analytical, esse equipamento permite identificar espécies atômicas e moleculares ejetadas por uma amostra bombardeada pelo feixe de íons oriundo do Pelletron. Segundo o professor Marcelo Sant’Anna, essa nova aquisição “viabilizará uma análise em tempo real da composição química da amostra como função da profundidade”.

O espectrômetro já passou pelos primeiros testes e aguardava apenas a inclusão de um copo de Faraday na linha para permitir a análise do feixe primário incidente, que será realizada nessa tarde. A partir de hoje a coleta de dados com o novo equipamento será possível.

A estudante de doutorado Camilla Codeço analisa o espectro de massa obtido em tempo real.

O equipamento foi adquirido com recursos da FAPERJ através de seu  Edital “Programa Apoio às Instituições de Ensino e Pesquisa Sediadas no Estado do Rio de Janeiro”, dentro do projeto  “Síntese e caracterização de materiais nano-estruturados com o uso de feixes de íons”, coordenado pelo professor Marcelo.